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PGA TEST BURN IN SOCKET ZIF - 108-PRS12005-12 - Sockel für integrierte Schaltkreise, Transistoren
Technische Information
108-PRS12005-12
Hersteller
Aries Electronics
Kategorie
Sockel für integrierte Schaltkreise, Transistoren
Kontakt-Finish
Gold, 30 µin (0,76 µm)
Funktionen
Geschlossener Rahmen
Montagetyp
Durchgangsloch
Neigung
0,100" (2,54mm)
Anzahl der Positionen oder Pins (Raster)
108 (12 x 12)
Typ
PGA, ZIF/ZIP
Serie
-
Andere Namen
108 PRS12005 12
108PRS1200512
Die gezeigte Abbildung kann vom Original abweichen. Genaue Spezifikationen entnehmen Sie bitte dem Datenblatt.
PGA TEST BURN IN SOCKET ZIF - 108-PRS12005-12 (108-PRS12005-12-ND) - Sockel für integrierte Schaltkreise, Transistoren
PGA TEST BURN IN SOCKET ZIF - 108-PRS12005-12 (108-PRS12005-12-ND) - Sockel für integrierte Schaltkreise, Transistoren
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