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SOCKET UNIV SOIC ZIF TEST - 44-547-11 - Sockel für integrierte Schaltkreise, Transistoren
Technische Information
44-547-11
Hersteller
Aries Electronics
Kategorie
Sockel für integrierte Schaltkreise, Transistoren
Kontakt-Finish
Gold, 20 µin (0,51 µm)
Funktionen
Geschlossener Rahmen
Montagetyp
Oberflächenmontage
Neigung
0,050" (1,27mm)
Anzahl der Positionen oder Pins (Raster)
44 (4 x 11)
Typ
SOIC, ZIF
Serie
547
Bleifreier Status
Lead Free
RoHS Status
RoHS Compliant
Andere Namen
44 547 11
4454711
A339 ND
A339ND
A339
Die gezeigte Abbildung kann vom Original abweichen. Genaue Spezifikationen entnehmen Sie bitte dem Datenblatt.
SOCKET UNIV SOIC ZIF TEST - 44-547-11 (A339-ND) - Sockel für integrierte Schaltkreise, Transistoren
SOCKET UNIV SOIC ZIF TEST - 44-547-11 (A339-ND) - Sockel für integrierte Schaltkreise, Transistoren
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